Springer, Journal of Electronic Testing誌より論文が発行されました。

吉河教授が筆頭/責任著者の論文が学術雑誌Springer, Journal of Electronic Testing より発行されました。

Takefumi Yoshikawa, Masahiro Ishimaru, Tatsuya Iwata, Fuma Mori, Kazutoshi Kobayashi, "A Bit-Error Rate Measurement and Error Analysis of Wireline Data Transmission using Current Source Model for Single Event Effect under Irradiation Environment," Journal of Electronic Testing, Volume 37, Issue 4, Jan. 2022. DOI: https://doi.org/10.1007/s10836-021-05972-y

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学科HPで本研究室の学生のインタビュー記事が掲載されました。

本研究室M1の長崎慎也くんと先田涼真くんのインタビュー記事が学科のHPに掲載されました。是非、ご覧ください。 https://eee.pu-toyama.ac.jp/%e5%9c%a8%e5%ad%a6%e7%94%9f%e3%81%ae%e5%a3%b0%ef%bd%9e...

d.lab-VDECデザインアワード発表会で発表します。

2024年 9/27(金)-9/28(土) に開催されるd.lab-VDECデザイナーズフォーラム2024において、本研究室M2の水野功務さんが第14回 d.lab-VDEC デザインアワードの第1次選考の通過者として、以下の内容で発表します。...

半導体IC設計に関する講演を実施（2024年8月9日）

吉河教授が、大阪公立大学協創研究センター半導体超加工・集積化技術研究所が主催する第6回半導体デバイスプロセス技術基礎講座において、以下の要領で講演を行います。日時：2024年8月9日(金) 15:30-18:20 / 名刺交換会　18:30-19:30...

Springer, Journal of Electronic Testing誌より論文が発行されました。

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