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  • tyoshikawa52

Springer, Journal of Electronic Testing誌より論文が発行されました。

吉河教授が筆頭/責任著者の論文が学術雑誌Springer, Journal of Electronic Testing より発行されました。


Takefumi Yoshikawa, Masahiro Ishimaru, Tatsuya Iwata, Fuma Mori, Kazutoshi Kobayashi, "A Bit-Error Rate Measurement and Error Analysis of Wireline Data Transmission using Current Source Model for Single Event Effect under Irradiation Environment," Journal of Electronic Testing, Volume 37, Issue 4, Jan. 2022. DOI: https://doi.org/10.1007/s10836-021-05972-y

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2022年度のメンバーを更新しました。

M1の佐伯真彬君がIEEE Sensors2021で行った発表に対してIEEE名古屋支部国際会議研究発表賞を受賞しました。当該発表賞は、海外で開催される国際会議における IEEE 名古屋支部所属の学生員の研究発表を奨励することを目的とし、IEEEに関わる学問や技術の分野において、研究成果を自ら学会等で発表する名古屋支部に属する学生員を対象としたものです。

岩田講師が電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ活動功労表彰(電子デバイス研究専門委員会幹事としての貢献)を受賞しました。